Informace o projektu
Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur
- Kód projektu
- MSM 143100002
- Období řešení
- 1/1999 - 12/2004
- Investor / Programový rámec / typ projektu
-
Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR
- Výzkumné záměry
- Fakulta / Pracoviště MU
- Přírodovědecká fakulta
Výsledky
Elektrické, optické a strukturní vlastnosti látek s různou dimenzionalitou. Metody infračervené spektroskopie.
Publikace
Počet publikací: 213
1993
-
Sensitivity of optical measurements of planar stratified structures and reduction of experimentsl data
Rok: 1993, vydání: Vyd. 1, počet stran: 99 s.
-
Temperature dependence of the dielectric function and the interband critical-point parameters of GaP
Thin Solid Films, rok: 1993, ročník: 1993, vydání: -
-
Temperature dependence of the dielectric function and the interband critical-point parameters of GaP
Phys. Rev. B, rok: 1993, ročník: 48, vydání: 11
-
Temperature dependence of the refractive index of crystalline germanium-silicon alloys
Appl. Phys. A, rok: 1993, ročník: 1993, vydání: 2
-
The diffuse x-ray scattering in real periodical superlatices
Superlattices and Microstructures, rok: 1993, ročník: 12, vydání: 1
-
Triple crystal x-ray diffractometry of periodic arrays of semiconductor quantum wires
Appl. Phys. Lett., rok: 1993, ročník: 63, vydání: 23
-
X-ray diffraction and reflectance, raman scattering and photoluminiscence characterization of thermally annealed epitaxial Si 1-x Ge x layers
Thin Solid Films, rok: 1993, ročník: 1993, vydání: 2
-
X-ray diffractometry of small defects in layered systems
J. Phys. D: Appl. Phys., rok: 1993, ročník: 26, vydání: -
-
X-ray double and triple crystal diffractometry of mosaic structure in heteroepitaxial layers
J. Appl. Phys., rok: 1993, ročník: 74, vydání: 3
-
X-ray double and triple crystal diffractometry of silicon crystals with small defects
Phys. Stat. Sol. (b), rok: 1993, ročník: 1992, vydání: -