Informace o projektu
Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur
- Kód projektu
- MSM 143100002
- Období řešení
- 1/1999 - 12/2004
- Investor / Programový rámec / typ projektu
-
Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR
- Výzkumné záměry
- Fakulta / Pracoviště MU
- Přírodovědecká fakulta
Výsledky
Elektrické, optické a strukturní vlastnosti látek s různou dimenzionalitou. Metody infračervené spektroskopie.
Publikace
Počet publikací: 213
1994
-
Interpretation of infrared transmittance spectra of SiO 2 thin films
Applied Spectroscopy, rok: 1994, ročník: 48(1994), vydání: 1
-
Nonspecular x-ray reflection from rough multilayers
Physical Review B, rok: 1994, ročník: 49, vydání: 15
-
Quantitative analysis of strain relaxation and mosaicity in short period Si m Ge n superlattices using reciprocal space mapping by x-ray diffraction
Solid-State Electronics, rok: 1994, ročník: 37, vydání: 4-6
-
Structural properties of perfect ZnTe epilayers on (001) GaAs substrates
Journal of Crystal Growth, rok: 1994, ročník: 138, vydání: -
-
The influence of specular interface reflection on grazing incidence x-ray diffraction and diffuse scattering from superlattices
Physica B, rok: 1994, ročník: 198, vydání: -
-
The influence of thermal processing on structural and electrical properties of Wx Si 1-x/Si multilayers
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research A, rok: 1994, ročník: 350, vydání: -
-
Transverse and longitudinal vibration modes in alpha-quartz
Philosophical Magazine B, rok: 1994, ročník: 70(1994), vydání: 3
-
Undesirable Occurrence of the Interference Fringes in IR Transmittance Spectra
Scripta Fac.Brun., rok: 1994, ročník: 29(1994), vydání: 1
-
X-ray characterization of semiconductor surfaces and interfaces
J. Phys. III France 4, rok: 1994, ročník: 1994, vydání: -
-
X-ray triple-cristal diffractometry of defects in epitaxic layers
J. Appl. Cryst., rok: 1994, ročník: 27, vydání: -