X-ray diffractometry of small defects in layered systems
Autoři | |
---|---|
Rok publikování | 1993 |
Druh | Článek v odborném periodiku |
Časopis / Zdroj | J. Phys. D: Appl. Phys. |
Fakulta / Pracoviště MU | |
Citace | |
Obor | Fyzika pevných látek a magnetismus |
Související projekty: |