1996

• Quantitative Study of Interface Roughness Replication in Multilayers Using X-ray Reflectivity and Transmission Electron Microscopy

  CHLÁDEK M. HOLÝ Václav

  Článek v odborném periodiku

  Appl. Phys. Lett., rok: 1996, ročník: 69(19960, vydání: 9

• Scanning-tunneling-microscopy Observation of Stress-driven Surface Diffusion Due to Localized Strain Fields of Misfit Dislocations in Heteroepitaxy

  SPRINGHOLZ G. BAUER G. HOLÝ Václav

  Článek v odborném periodiku

  Physical Review B, rok: 1996, ročník: 54(1996), vydání: -

• Structural characterization of reactive ion-etched semicond uctor nanostructures using x-ray reciprocal space mapping

  BAUER G. DARHUBER A. HOLÝ Václav

  Článek v odborném periodiku

  Mat. Res. Soc. Symp. Proc., rok: 1996, ročník: 1996, vydání: 405

• Theoretical description of multiple crystal arrangements

  HOLÝ Václav MIKULÍK Petr

  Článek ve sborníku

  X-ray and neutron dynamical diffraction: theory and applications, rok: 1996

• Thermal Stability of SIS Tunnel Junction with Silicon Barrier

  VÁVRA I. HOLÝ Václav KUBĚNA Josef BOCHNÍČEK Zdeněk

  Článek v odborném periodiku

  Czechoslovak Journal of Physic, Suppl. S2, rok: 1996, ročník: 46(1996), vydání: S2

• X-ray and neutron diffuse scattering from multilayers of fatty acid salt molecules

  STOEMMER R. HOLÝ Václav

  Článek v odborném periodiku

  Physica B, rok: 1996, ročník: 1996, vydání: 221

• X-ray reflectivity and diffuse scattering study of thermally treated XSi/Si multilayers

  JERGEL M. HOLÝ Václav

  Článek v odborném periodiku

  Mater. Sci. Forum, rok: 1996, ročník: 1996, vydání: 228-231

1995

• Crystalline and Quasi-cristalline Patterns in X-Ray Diffraction from Periodic Arrays of Quantum Dots

  DARHUBER A.A. HOLÝ Václav

  Článek v odborném periodiku

  Europhysics Letters, rok: 1995, ročník: 32(1995), vydání: 2

• Determination of threading dislocation density in hetero-epitaxial layers by diffuse x-ray scattering

  KOPPENSTEINER E. HOLÝ Václav

  Článek v odborném periodiku

  J. Phys. D: Appl. Phys., rok: 1995, ročník: 28, vydání: -

• Diffuse x-ray scattering from misfit dislocations in SiGe epitaxial layers with graded Ge content

  HOLÝ Václav

  Článek v odborném periodiku

  J. Appl. Phys., rok: 1995, ročník: 78(1995), vydání: 8