X-ray characterization of semiconductor surfaces and interfaces

Varování

Publikace nespadá pod Ekonomicko-správní fakultu, ale pod Přírodovědeckou fakultu. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.

Autoři	PLOTZ W. HOLÝ Václav
Rok publikování	1994
Druh	Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj	J. Phys. III France 4
Fakulta / Pracoviště MU	Přírodovědecká fakulta
Citace
Obor	Fyzika pevných látek a magnetismus
Související projekty:	Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur