Quantitative Study of Interface Roughness Replication in Multilayers Using X-ray Reflectivity and Transmission Electron Microscopy

Varování

Publikace nespadá pod Ekonomicko-správní fakultu, ale pod Přírodovědeckou fakultu. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.

Autoři	CHLÁDEK M. HOLÝ Václav
Rok publikování	1996
Druh	Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj	Appl. Phys. Lett.
Fakulta / Pracoviště MU	Přírodovědecká fakulta
Citace
Obor	Teoretická fyzika
Související projekty:	Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur