Structural characterization of reactive ion-etched semicond uctor nanostructures using x-ray reciprocal space mapping

Varování

Publikace nespadá pod Ekonomicko-správní fakultu, ale pod Přírodovědeckou fakultu. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.

Autoři	BAUER G. DARHUBER A. HOLÝ Václav
Rok publikování	1996
Druh	Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj	Mat. Res. Soc. Symp. Proc.
Fakulta / Pracoviště MU	Přírodovědecká fakulta
Citace
Obor	Fyzika pevných látek a magnetismus
Související projekty:	Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur