Informace o projektu
Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur
- Kód projektu
- MSM 143100002
- Období řešení
- 1/1999 - 12/2004
- Investor / Programový rámec / typ projektu
-
Ministerstvo školství, mládeže a tělovýchovy ČR
- Výzkumné záměry
- Fakulta / Pracoviště MU
- Přírodovědecká fakulta
Výsledky
Elektrické, optické a strukturní vlastnosti látek s různou dimenzionalitou. Metody infračervené spektroskopie.
Publikace
Počet publikací: 213
1999
-
Structural characterization of lamellar multilayer gratings by X-ray reflectivity and scanning electron microscopy
J. Phys. D: Appl. Phys., rok: 1999, ročník: 32, vydání: 9999
-
The far-infrared in-plane conductiivity of YBaCuO studied by ellipsometry
physics status solidi (b), rok: 1999, ročník: 215, vydání: 1
-
X-ray reflection by rough multilayer gratings: Dynamical and kinematical scattering
Phys. Rev. B, rok: 1999, ročník: 59, vydání: 11
-
X-ray reflection from self-organized interfaces in an SiGe/Si multilayer
Semicond. Sci. Technol., rok: 1999, ročník: 14(1999), vydání: -
1998
-
Coplanar and grazing incidence x-ray diffraction investigation of self-organized SiGe quantum dot multilayers
Physical Review B, rok: 1998, ročník: (58)1998, vydání: 12
-
Ellipsometry and transport studies of thin-film metal nitrides
Thin Solid Films, rok: 1998, ročník: 1998, vydání: 332
-
Infrared ellipsometry of LiF
Thin Solid Films, rok: 1998, ročník: 1998, vydání: 313-314
-
Oblique roughness replication in strained SiGe/Si multilayers
Physical Review B, rok: 1998, ročník: (57)1998, vydání: 19
-
Optical functions of silicon at high temperatures
Journal of Applied Physics, rok: 1998, ročník: 1998, vydání: 11
-
Self-organized growth of three-dimensional quantum-dot crystals with fcc-like stacking and a tunable lattice constant
Physical Review Letters, rok: 1998, ročník: 282(1998), vydání: 23