X-ray reflection from self-organized interfaces in an SiGe/Si multilayer
Autoři | |
---|---|
Rok publikování | 1999 |
Druh | Článek v odborném periodiku |
Časopis / Zdroj | Semicond. Sci. Technol. |
Fakulta / Pracoviště MU | |
Citace | |
Obor | Fyzika pevných látek a magnetismus |
Související projekty: |