Tip-sample relaxation as a source of uncertainty in nanoscale scanning probe microscopy measurements

Varování

Publikace nespadá pod Ekonomicko-správní fakultu, ale pod Přírodovědeckou fakultu. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.
Název česky Relaxace hrotu na vzorku jako zdroj nejistot v SPM meřeních v nanoměřítku
Autoři

CAMPBELLOVÁ Anna KLAPETEK Petr VALTR Miroslav

Rok publikování 2009
Druh Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj Measurement Science and Technology
Fakulta / Pracoviště MU

Přírodovědecká fakulta

Citace
Obor Fyzika pevných látek a magnetismus
Klíčová slova atomic force microscopy; uncertainty; DFT; carbon nanotube
Popis Délková měření v nanoměřítku jsou velmi často zaměřena na malé objekty tvořené jen několika atomárními vrstvami v jednom nebo více rozměrech. Klasický přístup popisu artefaktů založený na konvoluci hrotu a vzorku nemůže platit pro tyto vzorky vzhledem na kvantově-mechanickou povahu malých objektů. Díky působení meziatomárních sil, atomy hrotu a vzorku se ustálí v rovnovážných polohách. Toto vede na změny ve veličinách, které jsou nakonec interpretovány jako poloha AFM hrotu a ovlivňují se tak výsledná délková měření. V tomto článku jsou rozebírány zdroje nejistot spojené s relaxací hrotu na vzorku na atomární úrovni. Jsou prezentovány výsledky DFT modelování (pomocí programu Fireball používajícího aproximaci těsné vazby) AFM snímků typických systémů používaných v nanometrologii, např. fulerenů a CNT na HOPG substrátech.
Související projekty:

Používáte starou verzi internetového prohlížeče. Doporučujeme aktualizovat Váš prohlížeč na nejnovější verzi.