Annealing studies of high Ge composition Si/SiGe multilayers
Název česky | Studium žíhání multivrstev SiGe/Si s vysokým obsahem Ge |
---|---|
Autoři | |
Rok publikování | 2004 |
Druh | Článek v odborném periodiku |
Časopis / Zdroj | Zeitschrift fur Kristalographie |
Fakulta / Pracoviště MU | |
Citace | |
Obor | Fyzika pevných látek a magnetismus |
Klíčová slova | Reflectivity; X-ray diffraction; Annealing; Diffusion; Si/SiGe multiple quantum wells |
Popis | Byla studována teplotní stbilita multivrstev SiGe/Si (80% Ge) metodou rtg reflexe během žíhání in-situ při teplotě 810C. |
Související projekty: |