In-plane strain and shape analysis of Si/SiGe nanostructures by grazing incidence diffraction

Varování

Publikace nespadá pod Ekonomicko-správní fakultu, ale pod Přírodovědeckou fakultu. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.
Autoři

ZHUANG Y. PIETSCH U. STANGL J. HOLÝ Václav DAROWSKI N. GRENZER J. ZERLAUTH S. SCHÄFFLER F. BAUER G.

Rok publikování 2000
Druh Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj Physica B
Fakulta / Pracoviště MU

Přírodovědecká fakulta

Citace
Obor Fyzika pevných látek a magnetismus
Klíčová slova In-plane strain and shape analysis of Si/SiGe nanostructures by grazing incidence diffraction
Popis In-plane strain and shape analysis of Si/SiGe nanostructures by grazing incidence diffraction
Související projekty:

Používáte starou verzi internetového prohlížeče. Doporučujeme aktualizovat Váš prohlížeč na nejnovější verzi.