X-RAY LAUE DIFFRACTION STUDY OF OXYGEN PRECIPITATES IN CZOCHRALSKI SILICON

Varování

Publikace nespadá pod Ekonomicko-správní fakultu, ale pod Přírodovědeckou fakultu. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.

Název česky	Studie kyslíkových precipitátů v Czochralského křemíku pomocí rtg Laueho dofrakce
Autoři	RŮŽIČKA Jiří MEDUŇA Mojmír
Rok publikování	2011
Druh	Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj	Materials Structure in Chemistry, Biology, Physics and Technology
Fakulta / Pracoviště MU	Přírodovědecká fakulta
Citace
Obor	Fyzika pevných látek a magnetismus
Klíčová slova	Czochralski silicon; oxygen precipitates; x-ray Laue diffraction; statistical dynamical theory of diffraction
Popis	V prezentovaném článku jsme studovali kyslíkové precipitáty pomocí rtg difrakce v Laueho geometrii.
Související projekty:	Fyzikální a chemické vlastnosti pokročilých materiálů a struktur Nukleace a růst kyslíkových precipiátů v křemíku Struktura, elektronová struktura a optická odezva pokročilých materiálů