Characterization of polymer thin films deposited on aluminum films by the combined optical method and atomic force microscopy

Varování

Publikace nespadá pod Ekonomicko-správní fakultu, ale pod Přírodovědeckou fakultu. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.

Název česky	Charakterizace polymerních tenkých vrstev deponovaných na hliníkových vrstvách pomocí kombinované optické metody a mikroskopie atomové síly
Autoři	FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan KLAPETEK Petr NEPUSTILOVÁ Růžena BAJER Svatopluk
Rok publikování	2006
Druh	Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj	Surface and Interface Analysis
Fakulta / Pracoviště MU	Přírodovědecká fakulta
Citace
Obor	Fyzika pevných látek a magnetismus
Klíčová slova	ellipsometry; reflectometry; polymer films; AFM
Popis	V tomto článku
Související projekty:	Studium a aplikace plazmochemických reakcí v neizotermickém nízkoteplotním plazmatu a jeho interakcí s povrchem pevných látek Vývoj metod pro charakterizaci defektů na površích pevných látek Studium plazmochemických reakcí v neizotermickém nízkoteplotním plazmatu a jeho interakcí s povrchem pevných látek