Digital two-wavelength holographic interference microscopy for surface roughness measurement

Varování

Publikace nespadá pod Ekonomicko-správní fakultu, ale pod Přírodovědeckou fakultu. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.

Název česky	Digitální dvousvazková holografická interferenční mikroskopie měření drsností povrchů
Autoři	OHLÍDAL Miloslav ŠÍR L. JÁKL M. OHLÍDAL Ivan
Rok publikování	2005
Druh	Článek ve sborníku
Konference	Proceedings of SPIE 5945, 14th Slovak-Czech-Polish Optical Conference on Wave and Quantum Aspects of Contemporary Optics
Fakulta / Pracoviště MU	Přírodovědecká fakulta
Citace
Obor	Fyzika pevných látek a magnetismus
Klíčová slova	Holography; Interference; Surface roughness; Metrology
Popis	Je prezentován nový přístup k měření drsnosti povrchu založený na použití digitální dvouvlnové holografické interferenční mikroskopie se syntetickou vlnovou délkou. Dva hologramy náhodně drsného povrchu jsou postupně při dvou vlnových délkách zaznamenány CCD kamerou. Digitální součet obou hologramů je numericky rekonstruován. Rekonstruované digitální vlny spolu numericky interferují. Parametry měřeného drsného povrchu mohou být určeny z tvaru proužků ve vzniklém digitálním interferogramu. Rozsah měřitelné drsnosti povrchu je určen syntetickou vlnovou délkou, která je nepřímo úměrná rozdílu použitých vlnových délek.
Související projekty:	Realizace laboratorního vzoru zařízení pro měření drsnosti povrchu metodou holografické interferometrie