Temperature dependence of ellipsometric spectra of poly(methyl-phenylsilane)
Název česky | Teplotní závislost elipsometrických spekter poly(methyl-phenylsilanu) |
---|---|
Autoři | |
Rok publikování | 2004 |
Druh | Článek v odborném periodiku |
Časopis / Zdroj | Thin Solid Films |
Fakulta / Pracoviště MU | |
Citace | |
Obor | Fyzika pevných látek a magnetismus |
Klíčová slova | temperature; ellipsometric spectra; poly(methyl-phenylsilane); |
Popis | Souhrnná studie teplotní závislosti UV-VIS elipsometrických spekter tenkých vrstev poly(methyl-phenylsilanu). Byl nalezen práh nevratných změn optické odezvy na 373 K a dále průměrný teplotní posuv nejnižšího excitonového pásu v oblasti vratných změn. Efekt žíhání pod a nad 373 K byl studován při nízkém a vysokém stupni UV expozice. |
Související projekty: |