Diffraction effects in infrared ellipsometry of conducting samples

Varování

Publikace nespadá pod Ekonomicko-správní fakultu, ale pod Přírodovědeckou fakultu. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.
Název česky Difrakční efekty v infračervené elipsometrii vodivých vzorků
Autoři

HUMLÍČEK Josef BERNHARD Christian

Rok publikování 2004
Druh Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj Thin Solid Films
Fakulta / Pracoviště MU

Přírodovědecká fakulta

Citace
Obor Fyzika pevných látek a magnetismus
Klíčová slova Infrared ellipsometry; Diffraction; Metals
Popis We investigate theoretically polarization effects occurring in infrared spectra of finite-size conducting samples. In ellipsometric data taken at grazing incidence, a strong influence of sample edges is observed even for sample dimensions of several hundreds of a wavelength. As usual, the ellipsometric technique is found to be very efficient in supplying both magnitudes and phases of the polarized light waves. We present a comparison of the calculations with experimental far-infrared data of copper.
Související projekty:

Používáte starou verzi internetového prohlížeče. Doporučujeme aktualizovat Váš prohlížeč na nejnovější verzi.