X-ray grazing incidence study of inhomogeneous strain relaxation in Si/SiGe wires

Varování

Publikace nespadá pod Ekonomicko-správní fakultu, ale pod Přírodovědeckou fakultu. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.
Autoři

HOLÝ Václav

Rok publikování 2003
Druh Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj Nuclear Instruments & Methods in Physics Research A
Fakulta / Pracoviště MU

Přírodovědecká fakulta

Citace
Obor Fyzika pevných látek a magnetismus
Klíčová slova X-ray grazing incidence study of inhomogeneous strain relaxation in Si/SiGe wires
Popis X-ray grazing incidence study of inhomogeneous strain relaxation in Si/SiGe wires
Související projekty:

Používáte starou verzi internetového prohlížeče. Doporučujeme aktualizovat Váš prohlížeč na nejnovější verzi.