Atomic force microscopy characterization of ZnTe epitaxial thin films

Logo poskytovatele
Logo poskytovatele

Varování

Publikace nespadá pod Ekonomicko-správní fakultu, ale pod Přírodovědeckou fakultu. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.
Autoři

KLAPETEK Petr OHLÍDAL Ivan MONTAIGNE-RAMIL Alberto BONANNI Alberta STIFTER David SITTER Helmut

Rok publikování 2003
Druh Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj Japanese Journal of Applied Physics
Fakulta / Pracoviště MU

Přírodovědecká fakulta

Citace
Obor Fyzika pevných látek a magnetismus
Klíčová slova ZnTe epitaxial films; AFM analysis; faceted boundaries
Popis In this paper, results concerning atomic force microscopy studies of the upper bounaries of ZnTe epitaxial thin films prepared by molecular beam epitaxy onto gallium arsenide single crystal substrates are presented. It is sohw that the upper boundaries exhibit faceted structure which is described by means of statistical analysis.
Související projekty:

Používáte starou verzi internetového prohlížeče. Doporučujeme aktualizovat Váš prohlížeč na nejnovější verzi.