Expression of the optical constants of chalcogenide thin films using the new parameterization dispersion model

Logo poskytovatele

Varování

Publikace nespadá pod Ekonomicko-správní fakultu, ale pod Přírodovědeckou fakultu. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.
Autoři

FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan FRUMAR Miloslav JEDELSKÝ Jaroslav

Rok publikování 2003
Druh Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj Applied Surface Science
Fakulta / Pracoviště MU

Přírodovědecká fakulta

Citace
www http://hydra.physics.muni.cz/~franta/bib/ASS212_116.html
Obor Fyzika pevných látek a magnetismus
Klíčová slova Dispersion model of the optical constants; Amorphous solids; Chalcogenide thin films
Popis In this paper, a new dispersion model of the optical constants of amorphous solids enabling us to perform an efficient parameterization of the spectral dependences of the optical constants of chalcogenide thin films will be presented. This dispersion model is based on mathematical modeling the density of electronic states (DOS) corresponding to both the valence and conduction bands. The imaginary part of the dielectric function is then calculated by the numerical convolution of the DOS. The real part of the dielectric function is calculated using the corresponding Kramers-Kronig (KK) relation in a suitable numerical way. Moreover, the existence of the transitions between the localized states inside the band gap and the extended states inside both the valence and conduction bands is also taken into account using the corresponding convolutions. Thus, the dispersion model presented includes the absorption corresponding to the Urbach and Tauc regions. Then the dispersion model described allows to interpret spectroellipsometric and spectrophotometric data measured for the chalcogenide thin films within the wide spectral region (200-900 nm).
Související projekty:

Používáte starou verzi internetového prohlížeče. Doporučujeme aktualizovat Váš prohlížeč na nejnovější verzi.