Optical constants of ZnTe and ZnSe epitaxial thin films

Logo poskytovatele

Varování

Publikace nespadá pod Ekonomicko-správní fakultu, ale pod Přírodovědeckou fakultu. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.
Autoři

FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan KLAPETEK Petr MONTAIGNE-RAMIL Alberto BONANNI Alberta STIFTER David SITTER Helmut

Rok publikování 2003
Druh Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj Acta Physica Slovaca
Fakulta / Pracoviště MU

Přírodovědecká fakulta

Citace
www http://hydra.physics.muni.cz/~franta/bib/APS53_95.html
Obor Fyzika pevných látek a magnetismus
Klíčová slova SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETRY; MATRIX FORMALISM; CARBON-FILMS; MULTISAMPLE; GAAS
Popis In this paper the spectral dependences of the optical constants, i.e. refractive index and extinction coefficient, are presented within the spectral region 220-850 nm. For determining these spectral dependences a multi-sample modification of the combined optical method based on a simultaneous interpretation of experimental data corresponding to variable angle spectro-scopic ellipsometry and near-normal spectroscopic reflectometry is used. Further, physical models and an iterative procedure enabling us to determine the spectral dependences of the optical constants of both the epitaxial films are described in detail. The spectral dependences of the optical constants are introduced in the forms of curves and tables.
Související projekty:

Používáte starou verzi internetového prohlížeče. Doporučujeme aktualizovat Váš prohlížeč na nejnovější verzi.