Structural investigation of semiconductor nanostructures by x-ray techniques

• Autoři: STANGL Julian; HESSE Anke; ROCH Tomáš; HOLÝ Václav
• Rok publikování: 2002
• Druh: Článek v odborném periodiku
• Časopis / Zdroj: Nuclear Instruments & Methods in Physics Research A
• Fakulta / Pracoviště MU: Přírodovědecká fakulta
• Obor: Fyzika pevných látek a magnetismus
• Klíčová slova: Structural investigation of semiconductor nanostructures by x-ray techniques
• Popis: Structural investigation of semiconductor nanostructures by x-ray techniques

Související projekty

• Procesy samouspořádání rozhraní při epitaxním růstu polovodičových supermřížek
• Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur