Diffuse x-ray reflectivity from self-assembled ripples with superimposed roughness in Si/Ge superlattices

Varování

Publikace nespadá pod Ekonomicko-správní fakultu, ale pod Přírodovědeckou fakultu. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.

Autoři	HOLÝ Václav MEDUŇA Mojmír ROCH Tomáš BAUER Guenther
Rok publikování	2002
Druh	Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj	Semicond. Sci. Technol.
Fakulta / Pracoviště MU	Přírodovědecká fakulta
Citace
Obor	Fyzika pevných látek a magnetismus
Klíčová slova	Diffuse x-ray reflectivity from self-assembled ripples with superimposed roughness in Si/Ge superlattices
Popis	Diffuse x-ray reflectivity from self-assembled ripples with superimposed roughness in Si/Ge superlattices
Související projekty:	Procesy samouspořádání rozhraní při epitaxním růstu polovodičových supermřížek Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur