Complete Optical Analysis of Amorphous As-S Chalcogenide Thin Films by the Combined Spectrophotometric Method

Logo poskytovatele

Varování

Publikace nespadá pod Ekonomicko-správní fakultu, ale pod Přírodovědeckou fakultu. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.
Autoři

OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel FRUMAR Miroslav JEDELSKÝ Jaroslav NAVRÁTIL Karel

Rok publikování 2001
Druh Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj Journal of Optoelectronics and Advanced Materials
Fakulta / Pracoviště MU

Přírodovědecká fakulta

Citace
www http://hydra.physics.muni.cz/~franta/bib/JOAM3_873.html
Obor Fyzika pevných látek a magnetismus
Klíčová slova As-S chalcogenide films; Combined spectrophotometric method; Amorphous materials; Optical constants
Popis In this paper a combined spectrophotometric method is used to analyzed As-S chalcogenide thin films. This method is based on the simultaneous interpretation of experimental data corresponding to the reflectance from the ambient side, reflectance from the substrate side and transmittance of the chalcogenide films deposited onto the glass substrate. It is shown that this method is usable for the optical characterization of the chalcogenide films even when these films exhibit an inhomogeneity formed by a refractive index profile. Within this method our dispersion model of the optical constants of amorphous materials is used. This means that the values of the dispersion parameters determining the spectral dependences of the optical constants of the As-S chalcogenide material are evaluated. In the paper the advantages of the combined method mentioned are discussed from the practical point of view.
Související projekty:

Používáte starou verzi internetového prohlížeče. Doporučujeme aktualizovat Váš prohlížeč na nejnovější verzi.