Optical Characterization of Chalcogenide Thin Films

Logo poskytovatele

Varování

Publikace nespadá pod Ekonomicko-správní fakultu, ale pod Přírodovědeckou fakultu. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.
Autoři

FRANTA Daniel OHLÍDAL Ivan FRUMAR Miloslav JEDELSKÝ Jaroslav

Rok publikování 2001
Druh Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj Applied Surface Science
Fakulta / Pracoviště MU

Přírodovědecká fakulta

Citace
www http://hydra.physics.muni.cz/~franta/bib/ASS175_555.html
Obor Fyzika pevných látek a magnetismus
Klíčová slova Chalcogenide films; Dispersion model; Ellipsometry; Reflectometry
Popis In this paper the optical characterization of a film of amorphous As-S chalcogenides evaporated on glass substrates will be performed using variable angle of incidence spectroscopic ellipsometry (VASE) and near normal incidence spectroscopic reflectometry (NNSR). The spectral dependences of the ellipsometric parameters and reflectance of the chalcogenide thin film mentioned is measured within the near-UV, visible and near-IR spectral regions. For interpreting these optical quantities the new dispersion model of the spectral dependences of the optical constants of amorphous solids is employed. This model is based on the modified Lorentz oscillator. Within this model the concepts of the band gap and Urbach tail are respected.
Související projekty:

Používáte starou verzi internetového prohlížeče. Doporučujeme aktualizovat Váš prohlížeč na nejnovější verzi.