Ellipsometry of Thin Film Systems

Varování

Publikace nespadá pod Ekonomicko-správní fakultu, ale pod Přírodovědeckou fakultu. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.

Autoři	OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel
Rok publikování	2000
Druh	Kapitola v knize
Fakulta / Pracoviště MU	Přírodovědecká fakulta
Citace
Popis	In this paper, a review of both the important theoretical and experimental results concerning ellipsometry is presented.
Související projekty:	Společné laboratoře pro aplikovanou fyziku plazmatu a plazmovou chemii na PřF a PedF MU, VA v Brně a ÚFP AV ČR v Praze Charakterizace vrstevnatých systémů s náhodně drsnými rozhraními pomocí optických a rtg metod