Matrix formalism for imperfect thin films

Logo poskytovatele

Varování

Publikace nespadá pod Ekonomicko-správní fakultu, ale pod Přírodovědeckou fakultu. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.
Autoři

OHLÍDAL Ivan FRANTA Daniel

Rok publikování 2000
Druh Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj Acta physica slovaca
Fakulta / Pracoviště MU

Přírodovědecká fakulta

Citace
www http://hydra.physics.muni.cz/~franta/bib/APS50_489.html
Obor Fyzika pevných látek a magnetismus
Popis In this review paper a uniform matrix formalism enabling us to include the important defects of thin film systems into the formulae for their optical quantities is presented. The following defects are discussed: roughness of the boundaries; inhomogeneity represented by profiles of the refractive indices; transition interface layer and volume inhomogeneity. It is shown that this formalism is relatively very efficient. Thus fact is demonstrated using a theoretical example representing a complicated thin film system exhibiting defects.
Související projekty:

Používáte starou verzi internetového prohlížeče. Doporučujeme aktualizovat Váš prohlížeč na nejnovější verzi.