Diffuse x-ray reflectivity of strain-compensated Si/SiGe/SiC multilayers

Varování

Publikace nespadá pod Ekonomicko-správní fakultu, ale pod Přírodovědeckou fakultu. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.
Autoři

GRIM Jan HOLÝ Václav KUBĚNA Josef STANGL J. DARHUBER A.A. ZERLAUTH S. SCHÄFFLER F. BAUER G.

Rok publikování 1999
Druh Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj Semicond. Sci. Technol.
Fakulta / Pracoviště MU

Přírodovědecká fakulta

Citace
Obor Fyzika pevných látek a magnetismus
Související projekty:

Používáte starou verzi internetového prohlížeče. Doporučujeme aktualizovat Váš prohlížeč na nejnovější verzi.