Optical properties of thin films of poly(methyl-phenylsilylene)

Varování

Publikace nespadá pod Ekonomicko-správní fakultu, ale pod Přírodovědeckou fakultu. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.

Autoři	NAVRÁTIL Karel ŠIK Jan HUMLÍČEK Josef NEŠPŮREK S.
Rok publikování	1999
Druh	Článek v odborném periodiku
Časopis / Zdroj	Optical Materials
Fakulta / Pracoviště MU	Přírodovědecká fakulta
Citace
Obor	Fyzika pevných látek a magnetismus
Popis	We report the results of optical studies of thin films of poly(methyl-phenylsilylene) prepared on single-crystalline silicon and fused quartz substrates using the casting and spin coating technology. From near-normal incidence reflectance, we have determined the spectral dependence of the complex dielectric function and the complex refractive index in the energy interval from 1 to 7 eV.
Související projekty:	Fyzikální vlastnosti nových materiálů a vrstevnatých struktur