Optical characterization of multilayer systems with randomly rough boundaries

Varování

Publikace nespadá pod Ekonomicko-správní fakultu, ale pod Přírodovědeckou fakultu. Oficiální stránka publikace je na webu muni.cz.

Autoři	OHLÍDAL Ivan VIŽĎA František OHLÍDAL Miloslav
Rok publikování	1999
Druh	Článek ve sborníku
Konference	18th Congress of the International Commision for Optics: Optics for the Next Millennium
Fakulta / Pracoviště MU	Přírodovědecká fakulta
Citace
Obor	Fyzika pevných látek a magnetismus
Klíčová slova	multilayer systems; rough boundaries; coherent reflectance; optical characterization
Popis	In this contribution examples of the optical characterization of multilayer systems with randomly rough boundaries are presented. The method based on measuring and interpreting the spectral dependences of the coherent reflectance is used to determine the values of the optical and statistical parameters of sample of three-layer and thirteen-layer systems exhibiting the rough boundaries. The systems mentioned are formed by thin films of SiO2 and TiO2.
Související projekty:	Charakterizace vrstevnatých systémů s náhodně drsnými rozhraními pomocí optických a rtg metod